注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。
檢測樣品
半導體光電耦合器
實驗周期
7-15個工作日，加急實驗一般5個工作日
檢測項目
電流傳輸比CTR正向電流正向電壓電流傳輸比低電平電源電流反向擊穿電壓（二極管）VR輸出高電平電壓反向電流發射極-集電極擊穿電壓 VECO集電極-發射極飽和電壓 VCE(sat)集電極-發射極飽和電壓集電極-發射極擊穿電壓暗電流反向擊穿電壓輸出截止電流高電平電源電流輸出低電平電壓集電極-發射極截止電流 ICEO正向電壓（輸入二極管）VF輸入反向漏電流 IR電流傳輸比
檢測標準
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.9
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.2
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.1
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.17
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.4
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.14
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.3
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.6
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.7
半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測試方法 GB/T 15651.3-2003 4.2
半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測試方法 GB/T 15651.3-2003 5.6.1
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.8
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.16
半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測試方法 GB/T 15651.3-2003 4.1
半導體光電耦合器測試方法 SJ/T 2215-2015 5.15
半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測試方法 GB/T 15651.3-2003 5.1
以上標準僅供參考，如有其他標準需求或者實驗方案需求可以咨詢工程師
實驗儀器
測試流程
注意事項
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。
3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異
5.如果對于（半導體光電耦合器檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。
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