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低壓開關設備和控制設備用微動開關檢測

原創發布者：北檢院發布時間：2023-10-24 點擊數：

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檢測樣品

低壓開關設備和控制設備用微動開關電工電子設備用微動開關微動開關微動開關(0501)

實驗周期

7-15個工作日，加急實驗一般5個工作日

檢測項目

接線端子的機械性能試驗鹽霧試驗溫度沖擊操作性能試驗介質耐電壓絕緣電阻沖擊機械壽命焊槽法耐焊接熱絕緣強度接線端強度耐濕性試驗接觸電阻外形及安裝尺寸恒定濕熱電氣過負荷操動參數試驗外觀溫升試驗振動尺寸和重量介電性能試驗耐電壓操作力穩態濕熱密封零部件質量標志氣候順序電氣間隙和爬電距離保護性接地端子檢查觸點回跳溫度快速變化帶電負載的機械壽命內部目檢絕緣強度

檢測標準

微動開關 JB/T 3022-2021 9.2.2

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第6部分：氣候試驗和錫焊試驗 GB/T 5095.6-1997 11f

微動開關通用技術條件 JB/T 5451-2008 6.14

低壓開關設備和控制設備第5-1部分：控制電路電器和開關元件機電式控制電路電器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.1

軍用電子元器件篩選技術要求 GJB 7243-2011 10.3

電子設備用機電開關第6部分：微動開關分規范 GB/T13419-1998IEC 1020-6:1991QC960300 4.4.4

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第4部分：動態應力試驗 GB/T 5095.4-1997 6c

微動開關 JB/T 3022-2021 9.3.3.1

微動開關通用技術條件 JB/T 5451-2008 6.17

QC960300 4.13.4

微動開關通用技術條件 JB/T 5451-2008 6.7

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第8部分：連接器、接觸件及引出端的機械試驗 GB/T 5095.8-1997 16f

低壓開關設備和控制設備第1部分：總則 GB/T 14048.1-2012 8.2.4

微動開關通用技術條件 JB/T 5451-2008 6.11

低壓開關設備和控制設備第1部分：總則 GB/T 14048.1-2012 附錄K

微動開關 JB/T 3022-2021 7.2.2

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第6部分：氣候試驗和錫焊試驗 GB/T 5095.6-1997 11c

低壓開關設備和控制設備第5-1部分：控制電路電器和開關元件機電式控制電路電器 GB/T 14048.5-2017 8.2.4

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第5部分：撞擊試驗(自由元件)、靜負荷試驗(固定元件)、壽命試驗和過負荷試驗 GB/T 5095.5-1997 7a、7b、8a、8b、8c、10a

低壓開關設備和控制設備第5-1部分：控制電路電器和開關元件機電式控制電路電器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.2

微動開關通用技術條件 JB/T 5451-2008 6.8

微動開關通用技術條件 JB/T 5451-2008 6.3

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第2部分：一般檢查、電連續性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應力試驗 GB/T 5095.2-1997 1a

微動開關通用技術條件 JB/T 5451-2008 6.6

低壓開關設備和控制設備第5-1部分：控制電路電器和開關元件機電式控制電路電器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.3

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第4部分：動態應力試驗 GB/T 5095.4-1997 6d

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第6部分：氣候試驗和錫焊試驗 GB/T 5095.6-1997 11d

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第5部分：撞擊試驗(自由元件)、靜負荷試驗(固定元件)、壽命試驗和過負荷試驗 GB/T 5095.5-1997 9a

微動開關通用技術條件 JB/T 5451-2008 6.4

低壓開關設備和控制設備第5-1部分：控制電路電器和開關元件機電式控制電路電器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.4

QC960300 4.5.1

低壓開關設備和控制設備第1部分：總則 GB/T 14048.1-2012 8.3.3.3

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第7部分：機械操作試驗和密封性試驗 GB/T 5095.7-1997 13c

低壓開關設備和控制設備第5-1部分：控制電路電器和開關元件機電式控制電路電器 GB/T 14048.5-2017 8.2.1.2

QC960300 4.12.2

軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3

QC960300 4.4.2

微動開關 JB/T 3022-2021 9.3.3.2

低壓開關設備和控制設備第1部分：總則 GB/T 14048.1-2012 8.3.3.4

微動開關 JB/T 3022-2021 8.1.10

微動開關 JB/T 3022-2021 6.2

QC960300 4.12.1

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第2部分：一般檢查、電連續性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應力試驗 GB/T 5095.2-1997 2a

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第2部分：一般檢查、電連續性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應力試驗 GB/T 5095.2-1997 3a

微動開關 JB/T 3022-2021 9.3.3.4

微動開關 JB/T 3022-2021 8.1.3

微動開關 JB/T 3022-2021 8.1.7

QC960300 4.7.1

QC960300 4.3.7

QC960300 4.12.3

微動開關 JB/T 3022-2021 9.2.4

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第5部分：撞擊試驗(自由元件)、靜負荷試驗(固定元件)、壽命試驗和過負荷試驗 GB/T 5095.5-1997 9c

微動開關通用技術條件 JB/T 5451-2008 6.18

軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.5

微動開關通用技術條件 JB/T 5451-2008 6.9

電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法第2部分：一般檢查、電連續性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應力試驗 GB/T 5095.2-1997 4a

以上標準僅供參考，如有其他標準需求或者實驗方案需求可以咨詢工程師

我們的優勢

儀器齊全
北檢院實驗室百余臺大型試驗儀器，適用于各種材料的樣品，并且還有非標試驗的工裝定制服務。
技術經驗
實驗室工程師有著豐富的測試經驗，無論是常規樣品還是科研樣品，都有定制化試驗方案。
領域廣泛
服務覆蓋領域廣，主要包括：材料，能源，性能測試，醫藥領域，生物，動物，植物等科研項目領域。
售后支持
我們提供強大的后期技術支持，如果您對于報告有疑問或者對于試驗有疑問，我們可以為您提供完善的解答服務。

實驗儀器

實驗室儀器

測試流程

低壓開關設備和控制設備用微動開關流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（低壓開關設備和控制設備用微動開關檢測）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。

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常規檢測項目：接線端子的機械性能試驗、鹽霧試驗、溫度沖擊、操作性能試驗、介質耐電壓、絕緣電阻、沖擊、機械壽命、焊槽法耐焊接熱、絕緣強度、接線端強度、接線端子的機械性能試驗、耐濕性試驗、接觸電阻、外形及安裝尺寸、恒定濕熱、電氣過負荷、操動參數試驗、外觀、溫升試驗、振動、尺寸和重量、介電性能試驗、耐電壓、操作力、穩態濕熱、密封、零部件質量、標志、氣候順序、電氣間隙和爬電距離、保護性接地端子檢查、觸點回跳、溫度快速變化、帶電負載的機械壽命、內部目檢、

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飛機葉片檢測去哪里可以做?實驗室提供飛機葉片檢測服務，出具的檢測報告支持掃碼查詢真偽。檢測范圍：主旋翼葉片、尾旋翼葉片、發動機壓氣機葉片、渦輪葉片、扇葉和推進器葉片。檢測項目：尺寸檢測、形狀檢測、表面質量檢測、平衡性檢測、材料測試和缺陷檢測。

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凝血因子活性試驗去哪里可以做？中析研究所實驗室提供凝血因子活性試驗服務，出具的檢測報告支持掃碼查詢真偽。檢測范圍：血漿、全血、血清，檢測項目：凝血酶原時間(PT)、活化部分凝血活酶時間(APTT)、血漿纖維蛋白原濃度、凝血酶時間(TT)、D-二聚體測定、凝血酶抗體測定、抗磷脂抗體測定、凝血因子活性測定(如凝血因子Ⅷ、凝血因子Ⅸ等)。

沖擊電流

沖擊電流檢測去哪里可以做?實驗室提供沖擊電流檢測服務，出具的檢測報告支持掃碼查詢真偽。檢測范圍：變壓器、開關設備、電力電容器、電動機、發電機、電纜等。檢測項目：短路沖擊電流測試、故障電流測試、開關操作沖擊電流測試、負荷開斷沖擊電流測試、外部故障沖擊電流測試、過電壓保護裝置動作沖擊電流測試

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植物染色體檢測去哪里可以做？實驗室提供植物染色體檢測服務，出具的檢測報告支持掃碼查詢真偽。檢測范圍：小麥、玉米、大豆、水稻、煙草、馬鈴薯、甜菜、番茄、花生、棉花、蘋果、葡萄、桃子、櫻桃、香蕉、橘子、柚子、西瓜、草莓、藍莓、松樹、杉木、竹子。檢測項目：核型分析、染色體數量測定、染色體結構分析、FISH(熒光原位雜交)、GISH(基因組原位雜交)、SSR分析(簡單序列重復分析)、CGH(比較基因組雜交)、SNP分析(單核苷酸多態性分析)。

單片集成電路

常規檢測項目：老煉、恒定加速度、溫度循環、終點電參數測試、密封、PIND、內部目檢、外部目檢、初始電參數測試、

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