微電子器件測試

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注意：因業務調整，暫不接受個人委托測試望見諒。

測試樣品：微電子器件

測試項目

穩定性烘焙，溫度循環，密封，高溫電老煉，恒定加速度，X射線無損檢測，可焊性，內部目檢(單片)，鍵合強度(破壞性鍵合拉力試驗)，外部目檢，掃描電子顯微鏡檢查，破壞性物理分析(DPA)的內部目檢，內部目檢(混合電路)，芯片剪切強度，粒子碰撞噪聲檢測試驗，無源元件的目檢，塑封器件的超聲掃描檢測等

測試周期：7-15個工作日，試驗可加急

測試標準

GB/T 34955-2017大氣輻射影響 航空電子系統單粒子效應試驗指南

JJF (電子)0033-2019微電子器件測試系統自檢模塊校準規范

SJ/T 11703-2018數字微電子器件封裝的串擾特性測試方法

SJ/T 11705-2018微電子器件封裝的地和電源阻抗測試方法

SJ 20984-2008化學氣相淀積(CVD)設備通用規范

T/CWAN 0021-2021金錫合金預成形焊片及應用推薦規范

實驗儀器

測試流程

注意事項

1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。

2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考，因為每個樣品和項目都有所不同，所以最終以工程師告知的為準。

3.關于（樣品量）的需求，最好是先咨詢我們的工程師確定，避免不必要的樣品損失。

4.加急試驗周期一般是五個工作日左右，部分樣品有所差異

5.如果對于（微電子器件測試）還有什么疑問，可以咨詢我們的工程師為您一一解答。