注意:因業務調整,暫不接受個人委托測試望見諒。
測試樣品:銻化銦單晶片
A和B原子面,位錯密度,導電類型,拋光片厚度,晶面與定向,短軸尺寸,表面粗糙度,表面質量,載流子濃度,霍爾遷移率測試
測試周期:7-15個工作日,試驗可加急
紅外探測器用銻化銦單晶片規范 SJ20640-1997
1.具體的試驗周期以工程師告知的為準。
2.文章中的圖片或者標準以及具體的試驗方案僅供參考,因為每個樣品和項目都有所不同,所以最終以工程師告知的為準。
3.關于(樣品量)的需求,最好是先咨詢我們的工程師確定,避免不必要的樣品損失。
4.加急試驗周期一般是五個工作日左右,部分樣品有所差異
5.如果對于(銻化銦單晶片測試)還有什么疑問,可以咨詢我們的工程師為您一一解答。